產(chǎn)品列表
PROUCTS LIST
- 磁力攪拌器
- 振蕩器/混勻儀
- 離心機(jī)
- 移液器
- PCR梯度擴(kuò)增儀
- 高速均質(zhì)器
- 蠕動(dòng)泵
- 恒流泵
- 防腐蝕隔膜真空泵
- 冷水機(jī)
- 電子天平
- 智能消解器
- 超聲波細(xì)胞破碎儀
- 超聲波清洗機(jī)
- 水分儀
- 光纖光譜儀及測(cè)量附件
- 德國(guó)JENOPTIK
- 顯微鏡
- 激光光斑分析儀
- 照度計(jì)
- 光譜測(cè)量光源
- 積分球
- 光學(xué)鏡片
- 意大利LaserPoint
- 德國(guó)Omicron
- 德國(guó)APE
- 美國(guó)FJW
- 德國(guó)Xiton Photonics
- 荷蘭Delta Elektronika
- 美國(guó)NOIR
- 激光器及附件
半微量天平誤差和靈敏度的驗(yàn)證
點(diǎn)擊次數(shù):1168 時(shí)間:2023-02-14
半微量天平的重復(fù)性驗(yàn)證應(yīng)在空載和負(fù)載條件下進(jìn)行。有兩種負(fù)載:全負(fù)載和半負(fù)載。在校準(zhǔn)過(guò)程中,分別讀取并記錄負(fù)載和空載的平衡位置。請(qǐng)注意,每次負(fù)載增加必須為零。同一負(fù)載的多次測(cè)量結(jié)果之差不得超過(guò)負(fù)載半微量天平的最大允許誤差值。
誤差計(jì)算可通過(guò)兩種方式進(jìn)行:
?。?) 對(duì)于e≠d,指示誤差的計(jì)算公式為e=I-L(e:平衡指示誤差,I:平衡指示值,平衡盤(pán)上的L負(fù)載);
?。?) 對(duì)于e=d,示值誤差的計(jì)算公式為e=IL(1≠2)d-△ L(d:半微量天平的實(shí)際刻度指標(biāo)值,AL:使天平上的負(fù)載清潔)。在任何情況下,每個(gè)負(fù)載點(diǎn)所需的誤差都小于規(guī)范中規(guī)定的允許誤差。
半微量天平部分負(fù)載校準(zhǔn)(四邊形誤差校準(zhǔn)):
對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)天平,測(cè)試負(fù)載等于天平的最大重量,四邊形誤差等于最大值減去最小值。對(duì)于工作的半微量天平,測(cè)試負(fù)載等于天平最大負(fù)載的三分之一,四邊形誤差等于每個(gè)點(diǎn)的指示值與中心點(diǎn)指示值之差的較大值。
半微量天平重復(fù)性驗(yàn)證:
半微量天平靈敏度和辨別力的驗(yàn)證:半微量天平的靈敏度通常指分度靈敏度,其值應(yīng)等于天平相應(yīng)負(fù)載的值。帶有數(shù)字指示器和自動(dòng)或半自動(dòng)校準(zhǔn)裝置的半微量天平的靈敏度可免于檢查天平。
當(dāng)半微量天平的校準(zhǔn)值e≥lmg用于測(cè)量其辨別力時(shí),方法如下:在半微量天平上,當(dāng)其卸載或加載時(shí)處于平衡狀態(tài),當(dāng)將等于1.4倍數(shù)字刻度(1.4d)的施加負(fù)載值略微添加到天平上(或從天平上移除)時(shí),必須改變?cè)加囝~指示。
驗(yàn)證半微量天平每個(gè)負(fù)載點(diǎn)的最大允許誤差:首先啟動(dòng)機(jī)器預(yù)熱,然后根據(jù)手冊(cè)中規(guī)定的操作程序校準(zhǔn)半微量天平(這是關(guān)鍵步驟),然后校準(zhǔn)并顯示零位。
從零負(fù)載開(kāi)始,逐漸單調(diào)加載,直到具有最大稱(chēng)重值的天平,然后逐漸單調(diào)卸載,直到零負(fù)載。檢定過(guò)程中,檢定操作員應(yīng)根據(jù)天平的具體情況(檢定規(guī)程中未規(guī)定)選擇載荷點(diǎn),但應(yīng)檢定以下載荷點(diǎn):
?。?) 空載。
?。?) 滿(mǎn)載。
?。?) 最小刻度(I級(jí)天平:100e;II級(jí)天平:50e;III級(jí)天平:20e;IV級(jí)天平:20 e)。
(4) 與影響平衡誤差的“拐點(diǎn)”相對(duì)應(yīng)的負(fù)載,
例如
I類(lèi)天平:50000e、200000 e;II類(lèi)天平:5000e、20000e;III類(lèi)天平:500e、2000e等